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晶体位错

位错是指晶体中局部滑移区域的边界线,是一种常见的线缺陷。它们对于晶体的力学性质以及其他特性如晶体生长具有重要影响。通过化学腐蚀方法可以在晶体表面观察到位错的存在。

分类及特征

位错分为两类:刃位错和螺旋位错。其中,刃位错的位错线方向与滑移方向垂直,而螺旋位错的位错线方向与滑移方向平行。还有一种称为位错环的现象,在晶体内部表现为一个环形线,通常由多个空位聚集而成。在硅(Si)、锗(Ge)晶体中,最常见的位错是60°棱位错,其位错线位于(111)面上且与相邻的滑移方向成60°夹角。

对晶体的影响

施主和受主作用

在Si、Ge晶体中,60°棱位错因其悬挂键可以接受或释放电子,从而表现出施主和受主特性。这些位错能级在实验中被测量并显示出受主效应。

能带变化

位错周围的张应变和压应变会导致能带发生变化,具体表现在禁带宽度的变窄或变宽。

散射载流子

位错产生的晶格畸变会显著散射载流子,尤其是在高密度情况下。在n-型Si中,位错电离后形成的带负电的线会对载流子产生各向异性散射。

复合中心作用

位错在半导体中形成的是深能级,因此起到复合中心的作用,加速载流子的复合过程。

杂质沉积

位错的应力场会影响杂质的分布,导致杂质优先沿着位错线沉积。这可能会形成深能级复合中心,甚至建立导电通道。某些元素如碳(C)、氧(O)或氮(N)如果沉积在位错线上,能够固定位错,提高晶体的强度。

参考资料

概述.全知识.2024-10-30

【材科基干货】第16期:初识材料中最重要的缺陷.微信公众平台.2024-10-30

晶体缺陷的几何特征有哪些 晶体的位错是什么缺陷.电子发烧友.2024-10-30